NIST溯源尺度標準,用於(yu) 需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為(wei) 各種矽晶片的表麵性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chan) 品的粒徑複合儀(yi) 器廠家所需的各種規格。SURF-CAL係列產(chan) 品完符合SEMI行業(ye) 協會(hui) 的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的範圍, 覆蓋了半導體(ti) 技術藍圖(ITRS)所義(yi) 的關(guan) 鍵質控點
NIST溯源尺度標準,用於(yu) 需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為(wei) 各種矽晶片的表麵性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chan) 品的粒徑複合儀(yi) 器廠家所需的各種規格。
本係列產(chan) 品的材料由硼矽酸玻璃或碳酸鹽玻璃製成。微球的粒徑嚴(yan) 格按照NIST溯源測量法確,是標顯微鏡、光散射儀(yi) 和其它粒徑檢測儀(yi) 器的理想標準材料。這些產(chan) 品也被廣泛地用於(yu) 激光散射和膠體(ti) 現象的研究。與(yu) 不規則形態顆粒物相比,采用球麵型微粒能夠大程度地減少微粒形狀對分析儀(yi) 器的影響。2 µm 至20 µm 的玻璃微球是由硼矽酸鹽材料製成的;30 µm 至2000 µm的微球是鈉鈣玻璃材料製成的。
本係列產(chan) 品的材料由硼矽酸玻璃或碳酸鹽玻璃製成。微球的粒徑嚴(yan) 格按照NIST溯源測量法確,是標顯微鏡、光散射儀(yi) 和其它粒徑檢測儀(yi) 器的理想標準材料。這些產(chan) 品也被廣泛地用於(yu) 激光散射和膠體(ti) 現象的研究。與(yu) 不規則形態顆粒物相比,采用球麵型微粒能夠大程度地減少微粒形狀對分析儀(yi) 器的影響。