簡要描述:NIST溯源尺度標準,用於(yu) 需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為(wei) 各種矽晶片的表麵性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chan) 品的粒徑複合儀(yi) 器廠家所需的各種規格。SURF-CAL係列產(chan) 品完符合SEMI行業(ye) 協會(hui) 的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的範圍, 覆蓋了半導體(ti) 技術藍圖(ITRS)所義(yi) 的關(guan) 鍵質控點
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NIST溯源尺度標準,用於(yu) 需要高度視覺反差的尺度標和參考應用領域。SUR-CAL 為(wei) 各種矽晶片的表麵性狀的檢測和標提供了便利的工具。產(chan) 品的粒徑複合儀(yi) 器廠家所需的各種規格。SURF-CAL係列產(chan) 品完符合SEMI行業(ye) 協會(hui) 的建立的SSIS標指導準則, 微粒粒徑縱貫0.047到3.0微米的範圍, 覆蓋了半導體(ti) 技術藍圖(ITRS)所義(yi) 的關(guan) 鍵質控點
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