粒度測試的基本知識

本文帶領大家了解粒度測試的基本知識。

顆粒計數器：

1、顆粒：在一尺寸範圍內(nei) 具有特形狀的幾何體(ti) 。這裏所說的一尺寸一般在毫米到納米之間，顆粒不僅(jin) 指固體(ti) 顆粒，還有霧滴、油珠等液體(ti) 顆粒。

2、粉體(ti) ：由大量的不同尺寸的顆粒組成的顆粒群。

3、粒度：顆粒的大小叫做顆粒的粒度。

4、粒度分布：用特的儀(yi) 器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體(ti) 量的百分數。有區間分布和累計分布兩(liang) 種形式。區間分布又稱為(wei) 微分分布或頻率分布，它表示一係列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小於(yu) 或大於(yu) 某粒徑顆粒的百分含量。

5、粒度分布的表示方法：
① 表格法：用表格的方法將粒徑區間分布、累計分布一一列出的方法。
② 圖形法：在直角標係中用直方圖和曲線等形式表示粒度分布的方法。
③ 函數法：用數學函數表示粒度分布的方法。這種方法一般在理論研究時用。如的Rosin-Rammler分布就是函數分布。

6、粒徑和等效粒徑：粒徑就是顆粒直徑。這概念是很簡單明確的，那麽(me) 什麽(me) 是等效粒徑呢，粒徑和等效粒徑有什麽(me) 關(guan) 係呢？我們(men) 知道，隻有圓球體(ti) 才有直徑，其它形狀的幾何體(ti) 是沒有直徑的，而組成粉體(ti) 的顆粒又大多數不是圓球形的，而是各種各樣不規則形狀的，有片狀的、針狀的、多棱狀的等等。這些複雜形狀的顆粒從(cong) 理論上講是不能直接用直徑這個(ge) 概念來表示它的大小的。而在實際工作中直徑是描述一個(ge) 顆粒大小的直觀、簡單的一個(ge) 量，我們(men) 又希望能用這樣的一個(ge) 量來描述顆粒大小，所以在粒度測試的實踐中的我們(men) 引入了等效粒徑這個(ge) 概念。

　　等效粒徑是指當一個(ge) 顆粒的某一物理特性與(yu) 同質的球形顆粒相同或相近時，我們(men) 就用該球形顆粒的直徑來代表這個(ge) 實際顆粒的直徑。那麽(me) 這個(ge) 球形顆粒的粒徑就是該實際顆粒的等效粒徑。等效粒徑具體(ti) 有如下幾種：
① 等效體(ti) 積徑：與(yu) 實際顆粒體(ti) 積相同的球的直徑。一般為(wei) 激光法所測直徑為(wei) 等效體(ti) 積徑。
② 等效沉速徑：在相同條件下與(yu) 實際顆粒沉降速度相同的球的直徑。沉降法所測的粒徑為(wei) 等效沉速徑，又叫Stokes徑。
③ 等效電阻徑：在相同條件下與(yu) 實際顆粒產(chan) 生相同電阻效果的球形顆粒的直徑。庫爾特法所測的粒徑為(wei) 等效電阻徑。
④ 等效投進麵積徑：與(yu) 實際顆粒投進麵積相同的球形顆粒的直徑。顯向鏡法和圖像法所測的粒徑大多是等效投影麵積直徑。

7、表示粒度特性的幾個(ge) 關(guan) 鍵指標：
① D50：一個(ge) 樣品的累計粒度分布百分數達到50%時所對應的粒徑。它的物理意義(yi) 是粒徑大於(yu) 它的顆粒占50%，小於(yu) 它的顆粒也占50%，D50也叫中位徑或中值粒徑。D50常用來表示粉體(ti) 的平均粒度。
② D97：一個(ge) 樣品的累計粒度分布數達到97%時所對應的粒徑。它的物理意義(yi) 是粒徑小於(yu) 它的的顆粒占97%。D97常用來表示粉體(ti) 粗端的粒度指標。
其它如D16、D90等參數的義(yi) 與(yu) 物理意義(yi) 與(yu) D97相似。
③ 比表麵積：單位重量的顆粒的表麵積之和。比表麵積的單位為(wei) m2/kg或cm2/g。比表麵積與(yu) 粒度有一的關(guan) 係，粒度越細，比表麵積越大，但這種關(guan) 係並不一是正比關(guan) 係。

8、粒度測試的重複性：同一個(ge) 樣品多次測量結果之間的偏差。重複性指標是衡量一個(ge) 粒度測試儀(yi) 器和方法好壞的重要的指標。它的計算方法是：
其中，n為(wei) 測量次數（一般n>=10）；
　　　　x i為(wei) 每次測試結果的典型值（一般為(wei) D50值）；
　　　　x為(wei) 多次測試結果典型值的平均值；
　　　　σ為(wei) 標準差；
　　　　δ為(wei) 重複性相對誤差。
　　影響粒度測試重複性有儀(yi) 器和方法本身的因素；樣品製備方麵的因素；環境與(yu) 操作
方麵的因素等。粒度測試應具有良好的重複性是對儀(yi) 器和操作人員的基本要求。

9、粒度測試的真實性：
通常的測量儀(yi) 器都有準確性方麵的指標。由於(yu) 粒度測試的特殊性，通常用真實性來表示準確性方麵的含義(yi) 。由於(yu) 粒度測試所測得的粒徑為(wei) 等效粒徑，對同一個(ge) 顆粒，不同的等效方法能會(hui) 得到不同的等效粒徑。
　　 見，由於(yu) 測量方法不同，同一個(ge) 顆粒得到了兩(liang) 個(ge) 不同的結果。也就是說，一個(ge) 不規則形狀的顆粒，如果用一個(ge) 數值來表示它的大小時，這個(ge) 數值不是*的，而是有一係列的數值。而每一種測試方法的都是針對顆粒的某一個(ge) 特方麵進行的，所得到的數值是所有能表示顆粒大小的一係列數值中的一個(ge) ，所以相同樣品用不同的粒度測試方法得到的結果有所不同的是客觀原因造成的。顆粒的形狀越複雜，不同測試方法的結果相差越大。但這並不意味著粒度測試結果以漫無邊際，而恰恰應具有一的真實性，就是應比較真實地反映樣品的實際粒度分布。真實性目前還沒有嚴(yan) 格的標準，是一個(ge) 性的概念。但有些現象以做為(wei) 測試結果真實性好壞的依據。比如儀(yi) 器對標準樣的測量結果應在標稱值允許的誤差範圍內(nei) ；經粉碎後的樣品應比粉粉碎前更細；經分級後的樣品的大顆粒含量應減少；結果與(yu) 行業(ye) 標準或*的方法一致等。

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