粒度測試的基本知識介紹

                                                                        粒度測試的基本知識介紹

1、顆粒：在一尺寸範圍內(nei) 具有特定形狀的幾何體(ti) 。這裏所說的一尺寸一般在毫米到納米之間，顆粒不僅(jin) 指固體(ti) 顆粒，還有霧滴、油珠等液體(ti) 顆粒。
2、粉體(ti) ：由大量的不同尺寸的顆粒組成的顆粒群。
3、粒度：顆粒的大小叫做顆粒的粒度。
4、粒度分布：用特定的儀(yi) 器和方法反映出的不同粒徑顆粒占粉體(ti) 總量的百分數。有區間分布和累計分布兩(liang) 種形式。區間分布又稱為(wei) 微分分布或頻率分布，它表示一係列粒徑區間中顆粒的百分含量。累計分布也叫積分分布，它表示小於(yu) 或大於(yu) 某粒徑顆粒的百分含量。
5、粒度分布的表示方法：
① 表格法：用表格的方法將粒徑區間分布、累計分布一一列出的方法。
② 圖形法：在直角標係中用直方圖和曲線等形式表示粒度分布的方法。
③ 函數法：用數學函數表示粒度分布的方法。這種方法一般在理論研究時用。如傑出的Rosin-Rammler分布就是函數分布。
6、粒徑和等效粒徑：粒徑就是顆粒直徑。
等效粒徑是指當一個(ge) 顆粒的某一物理特性與(yu) 同質的球形顆粒相同或相近時，我們(men) 就用該球形顆粒的直徑來代表這個(ge) 實際顆粒的直徑。那麽(me) 這個(ge) 球形顆粒的粒徑就是該實際顆粒的等效粒徑。等效粒徑具體(ti) 有如下幾種：
① 等效體(ti) 積徑：與(yu) 實際顆粒體(ti) 積相同的球的直徑。一般為(wei) 激光法所測直徑為(wei) 等效體(ti) 積徑。
② 等效沉速徑：在相同條件下與(yu) 實際顆粒沉降速度相同的球的直徑。沉降法所測的粒徑為(wei) 等效沉速徑，又叫Stokes徑。
③ 等效電阻徑：在相同條件下與(yu) 實際顆粒產(chan) 生相同電阻效果的球形顆粒的直徑。庫爾特法所測的粒徑為(wei) 等效電阻徑。
④ 等效投進麵積徑：與(yu) 實際顆粒投進麵積相同的球形顆粒的直徑。顯向鏡法和圖像法所測的粒徑大多是等效投影麵積直徑。
7、表示粒度特性的幾個(ge) 關(guan) 鍵指標：
① D50：一個(ge) 樣品的累計粒度分布百分數達到50%時所對應的粒徑。它的物理意義(yi) 是粒徑大於(yu) 它的顆粒占50%，小於(yu) 它的顆粒也占50%，D50也叫中位徑或中值粒徑。D50常用來表示粉體(ti) 的平均粒度。
② D97：一個(ge) 樣品的累計粒度分布數達到97%時所對應的粒徑。它的物理意義(yi) 是粒徑小於(yu) 它的的顆粒占97%。D97常用來表示粉體(ti) 粗端的粒度指標。
其它如D16、D90等參數的定義(yi) 與(yu) 物理意義(yi) 與(yu) D97相似。
③ 比表麵積：單位重量的顆粒的表麵積之和。比表麵積的單位為(wei) m2/kg或cm2/g。比表麵積與(yu) 粒度有一定的關(guan) 係，粒度越細，比表麵積越大，但這種關(guan) 係並不一定是正比關(guan) 係。
8、粒度測試的重複性：同一個(ge) 樣品多次測量結果之間的偏差。重複性指標是衡量一個(ge) 粒度測試儀(yi) 器和方法好壞的*重要的指標。 影響粒度測試重複性有儀(yi) 器和方法本身的因素；樣品製備方麵的因素；環境與(yu) 操作
方麵的因素等。粒度測試應具有良好的重複性是對儀(yi) 器和操作人員的基本要求。
9、粒度測試的真實性：
通常的測量儀(yi) 器都有準確性方麵的指標。由於(yu) 粒度測試的特殊性，通常用真實性來表示準確性方麵的含義(yi) 。由於(yu) 粒度測試所測得的粒徑為(wei) 等效粒徑，對同一個(ge) 顆粒，不同的等效方法可能會(hui) 得到不同的等效粒徑。