顆粒計數器測量中常見的誤差

顆粒計數器測量中常見的誤差

儀(yi) 器在測量設備的過程中總會(hui) 遇到這樣那樣的問題，顆粒計數器使用也會(hui) 遇見多種問題，常見的問題總結如下：
 1. 方法誤差
是指由於(yu) 使用的測量方法不完善，理論依據不嚴(yan) 密，對某些經典測量方法做了不適當的修改簡化所產(chan) 生的誤差，即凡是在測量結果的表達式中沒有得到反映的因素，而實際上這些因素又起作用時所引起的誤差，我們(men) 又稱為(wei) 理論誤差。比如：用普通萬(wan) 用表測量電路中高阻值電阻兩(liang) 端的電壓時，由於(yu) 萬(wan) 用表電壓擋內(nei) 阻不高而形成分流，就會(hui) 引起測量誤差。
 2. 儀(yi) 器，儀(yi) 表誤差
由儀(yi) 器，儀(yi) 表本身及其附件所引入，出於(yu) 儀(yi) 器的電氣或機械性能不完善所產(chan) 生的誤差。比如：電橋中的標準電阻，示波器的探極線等都含有誤差。儀(yi) 器，儀(yi) 表的零位偏移，刻度不準確，以及非線性等引起的誤差均屬於(yu) 儀(yi) 器誤差。
 3. 人身誤差
由於(yu) 人的感覺器官和運動器官的限製所造成的誤差。對於(yu) 某些需借助於(yu) 人眼，人耳來判斷結果的測量，以及需進行人工調節等的測量工作，均會(hui) 引入人身誤差。比如：讀錯刻度，念錯讀數等。
 4. 使用誤差
又稱為(wei) 操作誤差，是指在使用儀(yi) 器過程中，因安裝，調節，布置，使用不當而引起的誤差。比如：按規應垂直放置的儀(yi) 表卻水平放置，儀(yi) 器接地不良，因測試引線太長而造成損耗或未考慮阻抗匹配，未按操作規程在沒有預熱，調節，校正後就迸行測量等，都會(hui) 產(chan) 生使用誤差。
 5. 影響誤差
又稱為(wei) 環境誤差，是指由於(yu) 受到溫度，濕度，氣壓，電磁場，機械振動，聲音，光，放射性等影響所造成的附加誤差。