粒度測試的幾種方法介紹

粒度儀(yi) 測試的幾種方法介紹

粒度測試的方法很多，具統計有上百種。目前常用的有沉降法、激光法、篩分法、圖像法和電阻法五種，另外還有幾種在特行業(ye) 和領域中常用的測試方法。
1、沉降法： 

沉降法是根據不同粒徑的顆粒在液體(ti) 中的沉降速度不同測量粒度分布的一種方法。它的基本過程是把樣品放到某種液體(ti) 中製成一濃度的懸浮液，懸浮液中的顆粒在重力或離心力作用下將發生沉降。
2、激光法： 

激光粒度儀(yi) 作為(wei) 一種新型的粒度測試儀(yi) 器，已經在粉體(ti) 加工、應用與(yu) 研究領域得到廣泛的應用。它的特點是測試速度快、測試範圍寬、重複性和真實性好、操作簡便等等。 

3、篩分法： 

篩分法是一種傳(chuan) 統的粒度測試方法。它是使顆粒通過不同尺寸的篩孔來測試粒度的。篩分法分幹篩和濕篩兩(liang) 種形式，以用單個(ge) 篩子來控製單一粒徑顆粒的通過率，也以用多個(ge) 篩子疊加起來同時測量多個(ge) 粒徑顆粒的通過率，並計算出百分數。篩分法有手工篩、振動篩、負壓篩、自動篩等多種方式。顆粒能否通過篩幾與(yu) 顆粒的取向和篩分時間等素因素有關(guan) ，不同的行業(ye) 有各自的篩分方法標準。 

4、電阻法： 

電阻法又叫庫爾特法，是由美國一個(ge) 叫庫爾特的人發明的一種粒度測試方法。這種方法是根據顆粒在通過一個(ge) 小微孔的瞬間，占據了小微孔中的部分空間而排開了小微孔中的導電液體(ti) ，使小微孔兩(liang) 端的電阻發生變化的原理測試粒度分布的。小孔兩(liang) 端的電阻的大小與(yu) 顆粒的體(ti) 積成正比。當不同大小的粒徑顆粒連續通過小微孔時，小微孔的兩(liang) 端將連續產(chan) 生不同大小的電阻信號，通過計算機對這些電阻信號進行處理就以得到粒度分布了。 
5、顯微圖象法： 

顯微圖象法包括顯微鏡、CCD攝像頭（或數碼像機）、圖形采集卡、計算機等部分組成。它的基本工作原理是將顯微鏡放大後的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳(chuan) 輸到計算機中，由計算機對這些圖像進行邊緣識別等處理，計算出每個(ge) 顆粒的投影麵積，根據等效投影麵積原理得出每個(ge) 顆粒的粒徑，再統計出所設的粒徑區間的顆粒的數量，就以得到粒度分布了。